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GB/T 15283-1994 0.5、1和2级交流有功电度表

时间:2024-05-05 17:57:46 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8310
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基本信息
标准名称:0.5、1和2级交流有功电度表
英文名称:Class 0.5、 1 and 2 alternating current watthour meters
中标分类: 仪器、仪表 >> 电工仪器仪表 >> 电能测量和负荷控制系统
ICS分类: 计量学和测量、物理现象 >> 电学、磁学、电和磁的测量 >> 电和磁量值的测量
替代情况:替代GB 3924-1983;被GB/T 17215.311-2008代替
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1994-12-07
实施日期:1995-05-01
首发日期:1994-12-07
作废日期:2009-01-01
主管部门:中国机械工业联合会
提出单位:中华人民共和国机械工业部
归口单位:全国电工仪器仪表标准化技术委员会
起草单位:哈尔滨电工仪表研究所
起草人:陈波、薛德晋、王菽蓉、徐岚、白静方
出版社:中国标准出版社
出版日期:1995-05-01
页数:平装16开, 页数:25, 字数:38千字
适用范围

本标准仅适用于最新制造的测量频率范围为45~65Hz的交流电能的0.5、1、2级感应式电度表及其型式检验1)。本标准也适用于仪表的组合件和附件,包括内附电流互感器。本标准不适用于最大需量指示器(见IEC 211号出版物译文)。本标准不适用于任一种用作遥测电能的测量装置。本标准不适用于作测试用途的仪表或特殊型式的电度表(例如超量表),多费率仪表除外。本标准不适用于接线端电压超过600V(用于三相系统的仪表的线间电压)的电度表。

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所属分类: 仪器 仪表 电工仪器仪表 电能测量和负荷控制系统 计量学和测量 物理现象 电学 磁学 电和磁的测量 电和磁量值的测量
【英文标准名称】:StandardTestMethodforCountingPreferentiallyEtchedorDecoratedSurfaceDefectsinSiliconWafers
【原文标准名称】:择优统计硅片侵蚀或表面缺陷的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1810-1997(2002)
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1997
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:defectdensity;dislocation;grainboundary;microscopic;polycrystallineimperfection;preferentialetch;silicon;slip
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thistestmethoddescribesthetechniquetocountthedensityofsurfacedefectsinsiliconwafersbymicroscopicanalysis.Note18212;Practicaluseofadefectcountingmeth
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:


基本信息
标准名称:综合智能网技术要求
英文名称:The Technical Requirements of Integrated Intelligent Network System
中标分类: 通信、广播 >> 通信网 >> 通信网技术体制
发布部门:中华人民共和国信息产业部
发布日期:2003-01-22
实施日期:2003-01-22
首发日期:
作废日期:
提出单位:信息产业部电信研究院
归口单位:信息产业部电信研究院
起草单位:信息产业部电信传输研究所、中国联合通信有限公司、深圳市中兴通讯股份有限公司、上海贝尔有限公司、华为技术有限公司
起草人:龚双瑾、刘多、张雪丽等
出版社:人民邮电出版社
出版日期:2003-01-22
页数:18页
适用范围

本标准规定了综合智能网在电信网(包括固定网、移动网等)中的位置、综合智能网的体系、提供的业务范围、各功能实体的主要功能、协议、信令、计费等方面的要求。本标准适用于综合智能网。

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所属分类: 通信 广播 通信网 通信网技术体制